スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
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概要
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本稿では, 複数のスキャンチェーンが存在するスキャンBISTに対する, LFSRの初期値とフェーズシフタの選択法について議論する.LFSRの初期値選択法は, 少ない回数の故障シミュレーションを用いて, 与えられた故障検出率を最も短いテスト長で達成可能な初期値を高速に検索する.ハードウェアオーバヘッドは必要としない.本手法を複数スキャンチェーン構成に適用することで, テスト時間をさらに圧縮することが期待できる.複数スキャンチェーンにおけるスキャンチェーン間の線形従属性を回避するため, フェーズシフタを併用する.フェーズシフタのためのハードウェアオーバヘッドに制限を設け, フェーズシフタの構成とLFSR初期値を選択する手法について検討する.故障検出率100%を達成する最短テスト長の観点から評価を行う.実験結果から, フェーズシフタを構成するEORゲート数が少ない条件においても, フェーズシフタを用いない場合や, 初期値選択法を用いない場合と比較して, テスト長が減少することを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-01-21
著者
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
黒川 晴申
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
-
新井 雅之
東京都立大学大学院工学研究科
-
福本 聡
東京都立大学大学院工学研究科
-
市野 憲一
東京都立大学
-
市野 憲一
東京都立大学大学院工学研究科
-
黒川 晴申
東京都立大学大学院工学研究科
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