ランダムパターンテストにおける故障検出率分布に関する考察(設計/テスト/検証)
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概要
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本稿では,ランダムパターンテストにおける故障検出率の分布について解析する.各故障に関する検出と未検出の事象を,それぞれ1と0に写像する確率変数を導入する.この確率変数を基に評価モデルを構築し,解析結果から故障検出率分布の正確な期待値と分散を算出できることを数値的に示す.
- 2011-06-17
著者
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福本 聡
首都大学東京システムデザイン学部
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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原 慎哉
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
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岩崎 一彦
首都大学東京 システムデザイン学部
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福本 聡
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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福本 聡
首都大学東京 システムデザイン学部
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