高電磁環境下における過渡故障に耐性を持つ順序回路方式の検討(ネットワーク環境でのディペンダビリティ,及び一般)
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概要
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近年,電力変換回路の小型化や高密度化の研究が進んでいる.それに伴って,制御回路やゲート駆動回路などの周辺回路と大電流の主回路とが著しく接近して実装されるようになった.そのため,パルス大電流部分の近傍に発生する電磁放射が,制御回路や周辺回路に大規模な過渡故障を起こす可能性が増大している.本研究では,DC-ACインバータによって引き起こされる電磁放射を原因とする過渡故障に耐性を持つ順序回路方式を提案する.提案アーキテクチャは,BIST(Built-in Self Test)回路を繰り返し動作させることで過渡故障の継続期間を計測し,通常動作時に発生する過渡故障の影響を回避するために,クロック信号を適切に無効化する.
- 2011-10-13
著者
-
福本 聡
首都大学東京システムデザイン学部
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
今井 健太
首都大学東京システムデザイン学部
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
サイサナソンカム アロムハック
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
小山 善史
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
アロムハッグ サイサナソンカム
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
小山 善史
首都大学東京 大学院 システムデザイン研究科
-
新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
-
福本 聡
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
福本 聡
首都大学東京 システムデザイン学部
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