部分ローテート型スキャン回路のテスタIPへの応用
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概要
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部分ローテート型スキャン回路は,n検出テストのテストデータ量を圧縮し,低速テスタによる実動作速度テストを容易にする.本研究では,COMET IIプロセッサとViperプロセッサに部分ローテート型スキャン回路をテスタIPによって適用して,その有効性を評価した.COMET IIプロセッサでは,LFSRによる擬似ランダムテストによって60%程度の故障カバレージしか得られなかったが,部分ローテート型スキャン回路をCOMET IIの15回検出テストに適用した場合,ATPGと同等の故障カバレージをATPGの10%程度のテストデー夕量によって得られることがわかった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-14
著者
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
-
新井 雅之
東京都立大学大学院工学研究科
-
福本 聡
東京都立大学大学院工学研究科
-
山形 優輝
東京都立大学大学院工学研究科電気工学専攻
-
渡辺 康一
東京都立大学大学院工学研究科電気工学専攻
-
市野 憲一
東京都立大学
-
市野 憲一
東京都立大学大学院工学研究科
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