安全・安心のための半導体設計・テスト技術(信頼性-温故知新-)
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概要
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半導体技術は,安全・安心な情報ネットワーク社会を実現するための基幹要素の役割を担っている.本稿では,現在の半導体の信頼性を保証している設計・テスト技術について概説し,さらに,今後の信頼性低下要因のひとつであるソフトエラーとその対策,半導体によるセキュアコンピューティングへのアプローチについて紹介する.
- 社団法人日本オペレーションズ・リサーチ学会の論文
- 2007-03-27
著者
-
福本 聡
首都大学東京システムデザイン学部
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京 システムデザイン学部
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