過渡故障に耐性を持つ時間冗長プロセッサの検討(耐過度故障,SWoPP2006)
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概要
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半導体製造プロセスの微細化,またそれに伴う動作周波数の向上,低消費電力化などによって,過渡故障がデジタル回路に与える影響が深刻化しつつある.本稿では,電磁波に起因する過渡故障に耐性を持つことを目的とした時間冗長プロセッサを検討した.まず,キャパシタ放電による電磁波がFPGA上に実装された順序回路に与える影響を調べる実験を行い,その結果に基づいて故障モデルを決定した.次に,この故障モデルに耐性を持つように時間冗長プロセッサを設計し,FPGA上に実装して,過渡故障に対する耐性を評価した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-07-25
著者
-
福本 聡
首都大学東京システムデザイン学部
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部
-
木村 真琴
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京 システムデザイン学部
-
木村 真琴
首都大学東京 システムデザイン学部
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