LFSRを用いたロジックBISTの故障検出率に関する統計的一考察(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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テストパターン発生器では,パラメータ設定によって生成されるパターン系列が異なることは周知のとおりである.本研究では故障検出能力の観点から,より効果的なテストパターン系列を得るためのパラメータ探索オーバヘッドについて統計的に考察する.故障シミュレーションの終了条件として,テストパターン数を用いる場合と,故障検出率を用いる場合とをそれぞれ検討する.その結果,必要な探索オーバヘッドを見積もるときの予想精度の点で,前者の方が統計的に取り扱いが容易であることがなど示される.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-02-10
著者
-
福本 聡
首都大学東京システムデザイン学部
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部
-
黒川 晴申
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京 システムデザイン学部
-
福本 聡
首都大学東京 システムデザイン学部
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