耐故障プロセッサの信頼性・性能評価手法に関する一考察(ネットワーク環境でのディペンダビリティ)
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概要
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近年,高度に集積化された半導体に発生する過渡故障などの影響を排除するため,さまざまな構成や方式の耐故障プロセッサが研究・提案されている.本研究では,種々の耐故障プロセッサの性能を解析的に評価するための統一的なモデルとなり得る確率モデルについて考察する.システムサイクルの概念を導入することで,評価尺度である相対性能比の期待値と分散を簡単な形で導出できることを述べる.また,具体的な耐故障プロセッサに提案モデルを適用して解析例を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-10-13
著者
-
福本 聡
首都大学東京システムデザイン学部
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京 システムデザイン学部
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