D-10-7 SRAM を用いた可変論理セルで構成したメモリテスタの実装
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-03-03
著者
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
-
新井 雅之
東京都立大学大学院工学研究科
-
福本 聡
東京都立大学大学院工学研究科
-
山形 優輝
東京都立大学大学院工学研究科電気工学専攻
-
市野 憲一
東京都立大学
-
佐藤 正幸
イノテック株式会社
-
板橋 浩行
イノテック株式会社
-
村井 崇
イノテック株式会社
-
大塚 信行
イノテック株式会社
-
佐藤 正幸
東京都立大学大学院工学研究科:ジェネシス・テクノロジー株式会社
-
板橋 裕行
イノテック株式会社
-
市野 憲一
東京都立大学大学院工学研究科
-
佐藤 正幸
エイシンシステム(株)
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