LFSRを用いた擬似ランダムパターン発生器の初期値選択手順
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概要
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LFSRを使ったVLSIに対する組込み自己テストにおける,初期値(シード)を選択する方法を提案する.本研究では,目標故障カバレージを達成する最短テスト長となるLFSRのシードを決定する方法(最短テスト長シード選定法)と,目標テスト長において,最大故障検出数を達成するシードを決定する方法(最大故障検出数シード選定法)を提案する.提案法はテスト・パー・クロック構成,およびtest-per-scan構成に適用することができる.テストパターンをGF(2^m)上のベクトルとして表現する.このときmはLFSRのビット数を示す.最短テスト長シード選択法は,シードの選択を考慮しない場合と比較して,60%以下のテスト長によって,100%故障カバレージを達成することができた.最大故障検出数シード選定法を20ビットのLFSRを使ったテスト・パー・スキャン構成のc7552回路に適用した結果,テスト長10000において残存故障を比較すると,シードを考慮しない場合は304であったが,提案法を用いることによって残存故障を227に減らした.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-11-21
著者
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
-
新井 雅之
東京都立大学大学院工学研究科
-
福本 聡
東京都立大学大学院工学研究科
-
渡辺 康一
東京都立大学大学院工学研究科電気工学専攻
-
市野 憲一
東京都立大学
-
市野 憲一
東京都立大学大学院工学研究科
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