畳込み圧縮器における X マスク確率について(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
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概要
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畳込み型テスト応答圧縮器は, 不定値を含むテスト応答圧縮に対して有効な技術である.本稿では, 畳込み圧縮器において不定値によって誤りが見逃される確率(Xマスク確率)の解析的な評価について議論する.まず, 与えられた畳込み圧縮器の構成に対して, 木探索アルゴリズムによってXマスク確率を解析的に導出する手法について示す.次に, より大規模な構成に対応するため, Xマスク確率を近似的に計算する手法について示す.数値例より, 木探索アルゴリズムによる解析結果がモンテカルロシミュレーションによって得られた結果とほぼ等しいことを示す.Xマスク確率は畳込み圧縮器の圧縮率に伴って増加することを示す.また, 不定値の発生確率が高い場合, 近似式による解析結果がシミュレーション結果とほぼ等しくなることを示す.
- 2005-02-11
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