C-023 故障挿入によるTMRプロセッサの耐縮退故障性評価(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ)
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概要
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- FIT(電子情報通信学会・情報処理学会)推進委員会の論文
- 2007-08-22
著者
-
福本 聡
首都大学東京システムデザイン学部
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部
-
丸本 耕平
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京 システムデザイン学部
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