CMOS LSIのESD/Latch-up故障の解析 : 実データでの故障モード解析(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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CMOS LSIの微細化が進む中,CMOS構造の弱点であるESD/Latch-up故障が大きな問題となっている.本研究では,その対策を検討するための第1段階として,実際に測定したデータの解析によってESD/Latch-up故障について考察する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-02-01
著者
-
福本 聡
首都大学東京システムデザイン学部
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
小日向 秀雄
首都大学東京大学院工学研究科
-
小日向 秀雄
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
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