C-025 高電磁環境下で論理回路に発生する過渡故障の実験的評価(ディペンダブルシステム,C分野:ハードウェア・アーキテクチャ)
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概要
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- FIT(電子情報通信学会・情報処理学会)運営委員会の論文
- 2012-09-04
著者
-
和田 圭二
首都大学東京
-
福本 聡
首都大学東京システムデザイン学部
-
今井 健太
首都大学東京システムデザイン学部
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
-
福本 聡
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
永島 一磨
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
新井 雅之
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
和田 圭二
首都大学東京都市教養学部理工学系
-
福本 聡
首都大学東京 システムデザイン学部
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