ばらつきを考慮した無線送信回路のテストに関する一考察(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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RF用ICの高集積化,回路の複雑化と共に,そのテストも課題となってきている.RF送信回路は,データレート毎に定められたエラー・ベクトル振幅(EVM)の基準値を満たす必要がある.しかし,EVMの測定には高価なテスト装置を必要とするため,代わりとなる手法が検討されている.ビット誤り率(BER)でRF送受信回路をテストする場合,劣悪な環境下で基準値を満たす必要がある.しかし,テスト環境で劣悪な環境を再現することは,大きな課題である.またBERは低く,テストに多大な時間を要するため,他のパラメータによってBERを推定する方法が検討されている.本研究では,RF送信回路の理想特性からの偏移を考慮した場合の,コンステレーション解析について検討する.誤差による信号の変化を説明し,モデル化されたRF回路のシミュレーションによって,EVMとBERを求めて評価する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-02-01
著者
-
新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
-
遠藤 辰朗
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部
-
岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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