岩崎 一彦 | 首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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概要
関連著者
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岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
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岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部
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新井 雅之
首都大学東京 システムデザイン学部
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岩崎 一彦
首都大学東京 システムデザイン学部
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福本 聡
首都大学東京システムデザイン学部
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岩崎 一彦
首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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池田 貴彦
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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相京 隆
半導体理工学研究セ
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相京 隆
株式会社半導体理工学研究センター
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福本 聡
首都大学東京 システムデザイン学部
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黒川 晴申
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
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大原 衛
東京都立大学大学院工学研究科
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大原 衛
首都大学東京システムデザイン学部
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松尾 達
(株)富士通研究所
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平出 貴久
(株)富士通研究所
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小西 秀明
富士通(株)
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江守 道明
富士通(株)
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相京 隆
富士通(株)
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新井 雅之
東京都立大学大学院工学研究科
-
福本 聡
東京都立大学大学院工学研究科
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遠藤 辰朗
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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中尾 教伸
(株)ルネサステクノロジ
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丸本 耕平
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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周藤 明史
首都大学東京システムデザイン学部
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原田 脩平
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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木村 真琴
首都大学東京システムデザイン学部
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田畑 嘉裕
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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木村 真琴
首都大学東京 システムデザイン学部
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石川 康太
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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鈴木 厳
(株)ルネサステクノロジ
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中野 勝幸
(株)半導体理工学研究センター
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新谷 道広
(株)半導体理工学研究センター
-
畠山 一実
(株)半導体理工学研究センター
-
相京 隆
(株)半導体理工学研究センター
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大沢 健太郎
首都大学東京システムデザイン学部
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新谷 道広
広島市立大学大学院情報科学研究科
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新谷 道弘
株式会社半導体理工学研究センター
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若松 弘樹
ジェネシス・テクノロジー株式会社
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佐藤 正幸
東京都立大学大学院工学研究科:ジェネシス・テクノロジー株式会社
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正田 剛史
サイバネットシステム(株)
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原田 脩平
東京都立大学工学部
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新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
清水 貴弘
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
-
佐藤 正幸
エイシンシステム(株)
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大沢 健太郎
首都大学東京 システムデザイン学部
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清水 貴弘
首都大学東京 大学院システムデザイン研究科
著作論文
- SoC向けMBISTにおける歩留りと面積のトレードオフに関する一考察(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
- D-10-20 同時多重に発生する過渡故障を前提にレジスタを二重化した順序回路(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 耐故障プロセッサ評価モデルの解析について(安全性及び一般)
- 耐故障プロセッサの信頼性・性能評価手法に関する一考察(ネットワーク環境でのディペンダビリティ)
- A-004 DHTルーティングシステムにおけるデータ分割配置手法の検討(モデル・アルゴリズム・プログラミング,一般論文)
- メモリBISTにおけるハードウェアオーバヘッドおよび故障位置特定に関する一考察(設計/テスト/検証)
- 同時多重に発生する過渡故障を前提とした高信頼プロセッサ設計(設計/テスト/検証)
- ばらつきを考慮した無線送信回路のテストに関する一考察(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- スキャンベースハイブリッドBISTにおける消費電力削減に関する一考察(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- ロジックBISTの疑似ランダムパターン品質の評価モデル(DC-2テスト,インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ,及び一般)
- 多世代データを保持する複製プロトコルのノード時間配置(DC-1ネットワーク,インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ,及び一般)
- 実チップデバッグ手法における観測回路の挿入箇所および面積に関する一検討(設計/テスト/検証)
- 差分スナップショットを伴う連携チェックポインティングの提案と評価(コンカレント工業)
- 有限なロールバック間隔に対するハイブリッド状態保存手法の最適チェックポイント間隔(データ工学, ディペンダビリティ, 一般)
- 有限なロールバック間隔に対するハイブリッド状態保存手法の最適チェックポイント間隔(データ工学, ディペンダビリティ, 一般)
- C-030 ロールバックの制約を考慮した最適非連携チェックポイント間隔に関する検討(C分野:アーキテクチャ・ハードウェア)
- ロジックBISTの疑似ランダムパターン品質の評価モデル(DC-2テスト,インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ,及び一般)
- 多世代データを保持する複製プロトコルのノード時間配置(DC-1ネットワーク,インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ,及び一般)
- C-023 故障挿入によるTMRプロセッサの耐縮退故障性評価(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ)
- 分散システムにおいて多世代データを保持するデータ複製プロトコル(分散システム)
- 安全・安心のための半導体設計・テスト技術(信頼性-温故知新-)
- 安全・安心のための半導体設計・テスト技術(信頼性-温故知新-)
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 再構成可能オンチップデバッグ回路の面積削減に関する一考察 (ディペンダブルコンピューティング)
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討
- C-012 ポストシリコンデバッグにおける観測および制御回路挿入に関する一検討(ハードウェア・アーキテクチャ,一般論文)
- D-10-9 SRAMブロックを用いた論理回路の-構成手法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- 過渡故障に耐性を持つ時間冗長プロセッサの検討(耐過度故障,SWoPP2006)
- C_017 VLSIのランダムパターンテストにおける残存故障数分布について(C分野:ハードウェア)
- 多世代データ保持のためのデータ複製プロトコル(高信頼・高可用システム,ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
- 多世代データ保持のためのデータ複製プロトコル(高信頼・高可用システム,ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
- D-10-13 学内LANにおける不正アクセス検出に関する一検討(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- LFSRを用いたロジックBISTの故障検出率に関する統計的一考察(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 畳込み圧縮器のガロア体上への拡張に関する一考察(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- 畳込み圧縮器のガロア体上への拡張に関する一考察(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- 畳込み圧縮器のガロア体上への拡張に関する一考察(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- 畳込み圧縮器のガロア体上への拡張に関する一考察(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- レイアウトを考慮したブリッジ/オープン故障カバレージの高精度見積法(設計/テスト/検証)