畠山 一実 | (株)半導体理工学研究センター

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概要

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関連著者

• 畠山 一実

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 相京 隆

  株式会社半導体理工学研究センター

• 畠山 一実

  株式会社半導体理工学研究センター

• 新谷 道広

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  (株)半導体理工学研究センター

• 新谷 道広

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 新谷 道弘

  株式会社半導体理工学研究センター

• 新谷 道広

  株式会社半導体理工学研究センター

• 新井 雅之

  首都大学東京システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部

• 周藤 明史

  首都大学東京システムデザイン学部

• 中野 勝幸

  (株)半導体理工学研究センター

• 佐藤 高史

  東京工業大学統合研究院

• 益 一哉

  東京工業大学

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 高橋 知之

  東京工業大学統合研究院

• 温 暁青

  九州工業大学

• 山本 真裕

  九州工業大学

• 植山 寛之

  東京工業大学統合研究院

• 上薗 巧

  東京工業大学統合研究院

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科

• 温 暁青

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 埜田 健治

  株式会社半導体理工学研究センター

• 伊藤 秀昭

  株式会社半導体理工学研究センター

• 森島 翔平

  九州工業大学

• 福永 昌勉

  株式会社半導体理工学センター

• 佐藤 高史

  京都大学大学院情報学研究科

• 上薗 巧

  京都大学大学院情報学研究科:(独)日本学術振興会

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 畠山 一実

  奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部|首都大学東京大学院システムデザイン研究科

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 新谷 道広

  京都大学大学院情報学研究科

• 新井 雅之

  首都大学東京 システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京 システムデザイン学部

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著作論文

• ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• D-10-16 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト(インダストリアルセッション,設計/テスト/検証)
• 遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
• 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ(フィールドテスト・製造ばらつき,VLSI設計とテスト及び一般)
• 国際会議報告 : VTS2011(29th IEEE VLSI Test Symposium)(設計/テスト/検証)

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