国際会議報告 : VTS2011(29th IEEE VLSI Test Symposium)(設計/テスト/検証)
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概要
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2011年5月に米国カリフォルニア州デイナポイントで開催された第29回VLSIテストシンポジウム(VTS2011)について報告する.VTSの沿革とVTS2011の概要を紹介したのち,論文発表の動向を提示する.また,基調講演や招待講演について概説するとともに,シリコンデバッグ関連,オンチップセンサ利用,低電力テスト,テスト容易化設計の各分野での注目された発表について詳述する.
- 2011-06-17
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