フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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圧縮テストを行う際に発生する不定値は圧縮効率やテスト品質に悪影響を及ぼすため,その処理手法について盛んに研究が行われている フィールドでの組込み自己テストにおいても同様の問題が起きるが,これらの手法を実現する場合,テストデータ量,テスト時間等の制約の考慮が必要となる 本研究では,フィールドテストにおける制約の中からデータ量に焦点を当て, X-Cancellngと呼ばれる既存手法において,不定値処理タイミングを一定間隔にすることによってデータ量削減を行う手法を提案する
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-02-06
著者
-
大和 勇太
奈良先端科学技術大学院大学
-
畠山 一実
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技大学院大学
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学:科学技術振興機構
-
米田 友和
奈良先端科学技大学院大学
-
吉見 優太
奈良先端科学技術大学院大学
-
畠山 一実
奈良先端科学技術大学院大学:科学技術振興機構
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