テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法(フィールドテスト・製造ばらつき,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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LSIのフィールド使用時における劣化検知は,LSIの品質や信頼性を保証するための重要な技術である.劣化は遅延値の増加として現れるため,劣化検知は遅延テストや遅延測定を用いて行われる.しかし,遅延値変動は,測定時の温度や電圧にも依存するため,劣化による遅延変動のみを求めることは困難である.そこで,本稿では,テスト開始時の回路温度を短時間で空間的に均一に設定するためのパターン生成法を提案する.提案手法は,テスト開始時に均一にしたい温度に必要な電力を求め,その電力を消費する単一のスキャンパターンを生成する.生成したパターンを用いて,繰り返しスキャンシフトすることで温度均一化を実現する.評価実験では,提案手法が目標温度に対し,少ない誤差で均一化可能であることを示す.
- 2011-02-07
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
小副川 絵美子
奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科
-
小副川 絵美子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技大学院大学
-
米田 友和
奈良先端科学技大学院大学
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