無閉路部分スキャン設計を指向したデータパスのテスト容易化高位合成
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概要
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本論文では, 無閉路構造に基づく部分スキャン設計のための, データパスのテスト容易化高位合成手法を提案する.スケジュールされた動作記述(データフローグラフ)に対して, 面積(リソース数)の最小性を満たしながら, 無閉路化のためのスキャンエジスタ数を最小にする演算器とレジスタのバインディングに関する発見的手法を提案する.本手法は, テスト容易性を考慮しない従来手法と比較して, 面積(演算器数, レジスタ数, マルチプレクサ数)を増やすことなく, 無閉路化のためのスキャンレジスタ数の小さいレジスタ転送レベルデータパスを合成することができる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-12-18
著者
-
井上 智生
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
高橋 智也
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
高崎 智也
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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