L/H型レジスタを有する無閉路順序回路に対するテスト生成法
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概要
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本論文では, ホールド機能を持つレジスタ(L/H型レジスタ)を有する無閉路順序回路のテスト生成法を提案する.L/H型レジスタを考慮した時間展開モデルを提案し, 無閉路順序回路に対するテストが, 提案する時間展開モデルを用いて, 組合せテスト回路用テスト生成アルゴリズムでテスト生成可能であることを示す.本手法により, 一般の順序回路を組合せテスト生成アルゴリズムでテスト生成を行うためのスキャンオーバーヘッドは, 既に提案されているL/H型レジスタを考慮していない無閉路順序回路のテスト生成法に比べて小さくなる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-02-13
著者
-
井上 智生
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
三原 隆宏
三菱電機コントロールソフトウェア株式会社
-
三原 隆宏
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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