BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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本稿では,LFSR,フェーズシフタ及びMISRで構成されるスキャンBISTを対象とし,テストデータ量制約下における高品質遅延故障テストのためのシード選択法を提案する.提案手法では,被テスト回路に対してテスト生成を行い,得られたテストキューブ集合をシード集合へ変換する.テスト品質として統計的遅延品質指標(SDQL)を採用し,得られたシード集合からテストデータ量制約下で最良のSDQLとなるシードを選択する.ITC'99ベンチマーク回路に対する評価実験では,提案手法が実用的な時間で品質の高いシードを選択可能であることを示す.
- 2010-02-08
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
竹谷 啓
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技大学院大学
-
米田 友和
奈良先端科学技大学院大学
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