無閉路可検査順序回路のクラス拡張に関する考察(セッション4 : オーバテストとテスト生成複雑度, VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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無閉路可検査性[7]を満たす順序回路は,閉路を持ちながら,無閉路順序回路と同等のテスト生成複雑度τ^2-bounded[3],[4]を持つ.本研究では,無閉路可検査性[7]を満たす順序回路のクラスの拡張について考察する.文献[7]で示されたスルー木に代えて,新たに正当化スルー木と伝搬スルー木を定義し,これに基づく新たな無閉路可検査性(拡張無閉路可検査性)を満たす順序回路を示す.拡張無閉路可検査性を満たす順序回路のクラスは文献[7]の無閉路可検査性を満たす順序回路のクラスを真に包含する.これは,一般の順序回路に対して,拡張無閉路可検査性に基づくテスト容易化設計を行った場合のハードウエアオーバーヘッドが,無閉路可検査性に基づくそれに比べて小さくなることを意味する.実験により,拡張無閉路可検査性に基づくテスト容易化設計の有効性を示す.
- 2007-02-02
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
岡 伸也
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
Ooi Chiayee
マレーシア工科大学
-
OOI ChiaYee
Faculty of Electrical Engineering, University of Technology Malaysia
-
Ooi Chia
Faculty of Electrical Engineering, University of Technology Malaysia
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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