完全故障検出効率を保証するデータパスの部分強可検査設計(上流 DFT, VLSI 設計とテスト及び一般)
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概要
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本稿では, レジスタ転送レベルデータパスを対象とし, 完全故障検出効率を保証する非スキャン方式に基づくテスト容易化設計法を提案する.この手法では, レジスタ転送レベルデータパスの性質として部分強可検査性を定義し, それに基づくデータパスのテスト容易化設計法及びテスト生成法を提案する.強可検査性をデータパスの一部分にだけ適用するので, 強可検査性に基づくテスト容易化設計よりもハードウェアオーバーヘッドが小さい.また, 回路の実動作速度テストが可能であり, 完全故障検出効率を達成する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-02-11
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
岩田 浩幸
奈良先端科学技術大学院大学
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
米田 友和
奈良先端科学技大学院大学
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