縮退故障とパス遅延故障のためのプロセッサの命令レベル自己テスト法(<小特集>LSIのテスト・診断技術論文)
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概要
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プロセッサの命令レベル自己テストは遅延やハードウェアオーバヘッドを伴わずに実動作テストを実現する手法として注目を集めている. 本論文では, 縮退故障, パス遅延故障に対し, 自己テストのためのテストプログラム自動生成法を提案する. 提案手法では, 対象故障を含む部分回路に対するゲートレベルテスト生成とレジスタ転送レベル記述や命令セットアーキテクチャといった高位情報を利用する命令列選択を組み合わせてテストプログラムを合成する. 部分回路に対するゲートレベルテスト生成には入出力に関する制約を考慮する必要がある. 本論文では, 命令実行グラフ, テストプログラムテンプレートを用いた効率の良い制約抽出法, 制約抽出過程での冗長故障判定法を提案し高い故障検出効率を達成する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-06-01
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
-
神戸 和子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
シン ヴィレンドラ
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
井上 美智子
奈良先端科学技大学院大学
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