組合せテスト生成複雑度でテスト生成可能な順序回路構造とその応用
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概要
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ある順序回路のテスト生成問題が, その順序回路内のフリップフロップをすべて信号線で置き換えてできる組合せ回路のテスト生成問題に帰着できるとき, その順序回路を組合せテスト生成複雑度でテスト生成可能な順序回路と言う. この性質を有する回路構造として平衡構造が知られているが, 平衡構造より広いクラスとして内部平衡構造を新しく導入する. 順序回路を回路構造で分類すると, {無閉路構造の順序回路}⊃{内部平衡構造の順序回路}⊃{平衡構造の順序回路}となる. 無閉路構造の順序回路は必ずしも組合せテスト生成複雑度でテスト生成可能ではないが, 内部平衡構造および平衡構造の順序回路は組合せテスト生成複雑度でテスト生成可能であることを示す. 一方, 有限状態機械(FSM)を実現可能性で分類すると, {無閉路構造実現可能なFSM}={内部平衡構造実現可能なFSM}⊃{平衡構造実現可能なFSM}となることを示す. 更に, 組合せテスト生成複雑度でテスト生成可能な内部平衡構造の性質を利用して, 新たな部分スキャンによるテスト容易化設計への応用および順序回路のテスト生成時間短縮への応用について考察する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-02-25
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科
-
高橋 智也
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
-
高崎 智也
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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