テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法(Iddqテスト・温度均一化,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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VLSIのテスト実行時は,消費電力が空間や時間でばらつき,それに伴い回路温度が変動する.一方,回路の動作遅延は温度に依存し,温度変動の下では高精度な遅延テストを行うことができない.本稿では,テスト実行時の温度変動による遅延ばらつきを低減し,高品質・高精度な遅延テストを実現するための温度均一化手法を提案する.提案手法は,与えられたテスト系列を複数の部分系列に分割し,部分系列単位で並び替えることにより温度均一化を実現する.評価実験では,提案手法が与えられたテスト系列に対する既存の消費電力最小化や空間的温度変動最小化といった電力最適化効果を保存したまま,効率的に温度均一化を実現していることを示す.
- 2010-02-08
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
-
中尾 良
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技大学院大学
-
米田 友和
奈良先端科学技大学院大学
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