BISTの故障を考慮した故障検出率と市場不良率の関係(ディペンダブルソフトウェアとネットワーク及び一般)

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概要

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故障検出率と市場不良率との関係を推定する関係式が知られているが、これらはいずれも、チップのテストを行うテスト装置には故障が無いと仮定されている。このため、テスト装置に故障が存在する確率は無視できるほど小さくなくてはならず、これには膨大なテストが必要である。BIST回路は、チップに組み込まれているので、テスト装置であるBIST回路自身のテストはチップ毎に実施しなければならず、テストに要するコストは増大してしまう。本論文で提案する手法では、テスト装置に故障が無いことを保障しなくても、故障検出率と市場不良率の関係を推定することができる。このため、BISTによるテストの場合でも、BIST回路自身に膨大なテストを実施する必要は無くなり、テストに要するコストを削減できる。
社団法人電子情報通信学会の論文
2004-06-11

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