中村 芳行 | NECエレクトロニクス(株)生産本部テスト評価技術部
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概要
関連著者
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中村 芳行
NECエレクトロニクス(株)生産本部テスト評価技術部
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藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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田中 正史
NECエレクトロニクス(株)生産本部テスト評価技術部
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中村 芳行
奈良先端科学技術大学院大学
著作論文
- 統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出(Iddqテスト・温度均一化,VLSI設計とテスト及び一般)
- BISTの故障を考慮した故障検出率と市場不良率の関係(ディペンダブルソフトウェアとネットワーク及び一般)