田中 正史 | NECエレクトロニクス(株)生産本部テスト評価技術部

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概要

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• 同名の論文著者
• NECエレクトロニクス(株)生産本部テスト評価技術部の論文著者

関連著者

• 田中 正史

  NECエレクトロニクス(株)生産本部テスト評価技術部

• 中村 芳行

  NECエレクトロニクス(株)生産本部テスト評価技術部

著作論文

• 統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出 (ディペンダブルコンピューティング)
• 統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出(Iddqテスト・温度均一化,VLSI設計とテスト及び一般)

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