論文relation
統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出 (ディペンダブルコンピューティング)
スポンサーリンク
概要
論文の詳細を見る
2010-02-15
著者
田中 正史
NECエレクトロニクス(株)生産本部テスト評価技術部
関連論文
統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出 (ディペンダブルコンピューティング)
統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出(Iddqテスト・温度均一化,VLSI設計とテスト及び一般)
スポンサーリンク
論文relation | CiNii API
論文
論文著者
博士論文
研究課題
研究者
図書
論文
著者
お問い合わせ
プライバシー