統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出(Iddqテスト・温度均一化,VLSI設計とテスト及び一般)

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概要

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プロセスの微細化に伴いIddqのばらつきが増大しており、Iddqテストが困難になっている。このため、Iddqの変動を観測するΔIddq方式などが提案されているが、Iddq変動の要因が多元化し、さらに故障の影響によるIddq変動が微小化しており、判定は困難になっている。本稿では、Iddqの多次元的なoutlierを検出可能な、マハラノビス距離を用いた統計的手法を提案する。また、実製造データにより効果を検証したので報告する。
2010-02-08

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