消費電力を考慮したマルチクロックドメイン SoC のテストスケジューリング(スケジューリング, VLSI 設計とテスト及び一般)
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概要
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本論文では, コアのテスト時の動作周波数が異なるマルチクロックドメインSoCを対象とし, テスト実行時間の最小化を目的としたラッパーとTAMの設計手法および, テストスケジューリング手法を提案する.提案手法では, SoCに関する制約としてテストに使用可能なピン数と最大許容消費電力, コアに関する制約としてテスト時の周波数, そしてATEに関する制約として動作周波数を考える.また, 各コアとATEの周波数の違いの解消やテスト時の低消費電力化のためにテストデータ多重化を用いた柔軟なテストスケジュールを実現するヒューリスティックアルゴリズムを提案する.評価実験では, マルチクロックドメインSoCに対する実験および従来法との比較のための消費電力制約を持つマルチクロックドメインでないSoCに対する実験を行い提案手法の有効性を示す.
- 2005-02-11
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
増田 公彦
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
米田 友和
奈良先端科学技大学院大学
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