プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計(集積回路技術とアーキテクチャ技術の協調・融合へ向けた,プロセッサ,並列処理,システムLSIアーキテクチャ及び一般)
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概要
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本稿では,テンプレートを利用したテストプログラム生成活から合成された任意のテストプログラム実行時に起こる誤りマスクを回避するプロセッサのテスト容易化設計法を提案する.テンプレートを利用したテストプログラム生成法では,モジュール単体テスト生成で検出可能な故障が,テストプログラム実行時では検出されない誤りマスクが問題である.提案手法は,誤りマスクを完全に除去するという意味で,テンプレートレベル故障検出効率100%を達成可能である.また,提案手法は,信号線の観測のみで誤りマスクを回避するため,遅延オーバーヘッドがなく実動作速度テストが可能である.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-06-01
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
-
中里 昌人
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
井上 美智子
奈良先端科学技大学院大学
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