連続可検査性に基づくシステムオンチップの面積オーバヘッドとテスト実行時間の相互最適化
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概要
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システムオンチップ(SoC)が可検査であるためには,それを構成するコア自身が可検査でありかつSoCの外部から内部の各コアヘのテストアクセスが可能である必要がある.SoCでは縮退故障などの論理故障のみならず,遅延故障などのタイミング故障のテストも重要となるため,コアに実動作速度(at-speed)で任意のテストパタンを連続して印加し,応答を観測できる必要がある.SoCのすべてのコアと信号線に対してこのようなテストアクセスが可能である性質をSoCの連続可検査性という.本論文では,スキャン設計されたコア,非スキャン設計されたコア,IEEE P1500に準拠したコアによって構成され,外部テスト方式によってテストされるSoCを対象とし,面積オーバヘッドとテスト実行時間に対して相互最適化された連続可検査なSoCを実現するテスト容易化設計法(テストアクセス機構設計法およびテストスケジューリング法)を提案する.また実験により,代表的なテストアクセス手法であるテストバス方式と比較し,提案手法の有効性を示す.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-14
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
内山 哲夫
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
米田 友和
奈良先端科学技大学院大学
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