単一故障仮定のもとで組合せテスト生成複雑度をもつ順序回路にクラス
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概要
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内部平衡構造を有する順序回路上の全ての単一縮退故障に対するテスト生成問題が, 組合せ回路の単一縮退故障に対するテスト生成問題に帰着できることを示す.内部平衡構造を有する順序回路は組合せテスト生成複雑度をもつ順序回路のクラスとして導入された.しかし, 分離可能外部入力と呼ばれる外部入力上の単一縮退故障は変換された組合せ回路上の多重故障に対応するという問題点があった.本稿では, この問題点を解決する.組合せテスト生成アルゴリズムを用いた, 分離可能外部入力上の単一縮退故障に対するテスト生成法, および検出不能であることの識別法を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-11-23
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
-
Gizdarski E
Univ. Rousse Rousse Bgr
-
Gizdarski Emil
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科:department Of Computer Systems University Of Rousse Blugaria
-
Gizdarski Emil
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
井上 美智子
奈良先端科学技大学院大学
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