平衡構造を利用した安全なスキャン設計(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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暗号回路といった秘密情報を内部に持つ回路に対するスキャン設計を利用したサイドチャネル攻撃に耐性のある安全なスキャン設計法を提案する.提案法では,平衡構造に基づく部分スキャン設計,スキャンチェーンシフト時のデータ混乱化により,スキャンチェーンからの秘密情報の漏洩を防止する.また,被テスト回路およびテスト容易化設計による付加回路のテスト容易性を保証し,スキャン設計における安全性とテスト容易性の両立を実現している.さらに,RSA回路に対する実験を行い,提案手法の有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-02-01
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
-
長谷川 宗士
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
-
井上 美智子
奈良先端科学技大学院大学
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