スルー演算を用いた非スキャン方式によるデータパスのテスト容易化設計
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概要
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本論文では,レジスタ転送レベルのデータパスを対象に,スルー演算を用いた非スキャン方式によるテスト容易化設計法を提案する.まずデータパスの弱可検査性を定義し,小さいハードウェアオーバヘッドで与えられたデータパスを弱可検査にする問題について考察する.この問題のNP困難性を示し,この問題に対する発見的方法を提案する.次にレジスタを制御,観測するのに必要なクロック数を与える尺度を提案し,テスト生成時間との相関を考察する.最後に,実験結果により本手法および提案した尺度の有効性を示す.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-12-25
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
増澤 利光
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
-
高畠 勝之
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
高畠 勝之
NTT北陸マルチメディア推進本部
-
井上 美智子
奈良先端科学技大学院大学
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