事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト(インダストリアルセッション,設計/テスト/検証)

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概要

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• 低電力設計の進展とともに,テスト時の電力消費とIRドロップの問題は重大化している.過剰な電力消費やIRドロップによるテスタフェールやクロックの遅れによる見逃し不良などが現場での問題として認識されている.本論文では,電力およびノイズを考慮したスキャンテスト方法を提案する.その特徴は,事前のテスト時電力・ノイズの見積り結果に基づき,テスト容易化設計(DFT)やテスト生成(ATPG)を実行する点にある.評価実験によりスキャンシフト時およびスキャンキャプチャ時のIRドロップが効果的に低減されることを示す.

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2009-06-12

著者

• 畠山 一実

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 相京 隆

  株式会社半導体理工学研究センター

• 畠山 一実

  株式会社半導体理工学研究センター

• 埜田 健治

  株式会社半導体理工学研究センター

• 伊藤 秀昭

  株式会社半導体理工学研究センター

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