検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法(ディペンダブルコンピューティング)
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概要
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半導体の微細化加工技術の進展に伴って遅延故障に対する故障検査がますます重要になっている.しかしながら遅延故障に対する故障診断法はいまだ確立されていない.本論文では,検出可能な遅延故障サイズを考慮した微小遅延故障に対する故障診断法を提案する.提案する故障診断法は,検出可能な最小付加遅延サイズを考慮した診断用遅延故障シミュレーションを利用して微小遅延故障を診断する.評価実験結果から,提案手法は微小遅延故障に対しても十分小さな範囲に故障候補を指摘できることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-07-01
著者
-
相京 隆
(株)半導体理工学研究センター
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
-
小野 恭平
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻博士前期課程
-
高松 雄三
愛媛大学
-
相京 隆
半導体理工学研究センター(STARC)
-
高橋 寛
愛媛大学大学院
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
大津 潤一
愛媛大学大学院理工学研究科
-
清水 隆治
(株)半導体理工学研究センター
-
清水 隆治
(株)半導体理工学研究センター:(現)富士通マイクロエレクトロニクス(株)
-
高橋 寛
山形大 工
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
-
高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
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