不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
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概要
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本稿では,不確かな検出テスト集合と非検出テスト集合を用いて組込み自己テスト(BIST)環境におけるブリッジ故障診断法について述べる.BIST環境下においては,検査結果として得られる出力応答が高圧縮で奉るため,被検査回路の故障を検出するテスト(検出テスト)のみで構成されたテスト集合と検出できないテスト(非検出テスト)のみで構成されるテスト集合に分類することは容易ではなく,検出テストの中に非検出テストが含まれる場合がある.そこで,本研究では,ブリッジ故障を対象に検出テストと非検出テストによって構成された不確かな検出テスト集合と非検出テストのみによって構成される非検出テスト集合で故障候補を推定する診断法を提案する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-11-25
著者
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学工学部情報工学科
-
高橋 寛
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
山崎 浩二
明治大学
-
西山 隆広
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
高松 雄三
愛媛大学工学部
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