CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法
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概要
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本稿では、CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法を提案する。CPLDはPLAブロックが相互に接続されたデバイスであり、設計変更が容易なため広く用いられている。これまでCPLDのクロスポイント故障および縮退故障の検出に関する研究は行われてきたが、故障診断に関しては十分な研究がなされていない。本論文では診断用のコンフィギュレーションを調査し、CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法を考案した。結果として8回のコンフィギュレーションで100%の故障が診断可能であることを示す。4回のコンフィギュレーションでは98.5%の故障が診断可能であった。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2002-11-27
著者
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山崎 浩二
明治大学理工学部情報科学科
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山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
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堤 利幸
明治大学理工学部情報科学科
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堤 利幸
明治大学理工学部
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堤 利幸
明治大学
-
山崎 浩二
明治大学
-
落合 渉
明治大学大学院理工学研究科
-
冨澤 一隆
明治大学大学院理工学研究科
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