マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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スキャンテストは,VLSIのテスト方式として広く普及しているが,回路構造の情報のみを利用したテスト法で,シフト動作によって回路を無効状態に遷移させてテストする場合がある.したがって,スキャンテストはオーバテストを行っていると考えられる.オーバテストの弊害としては,歩留まり損失の発生やテスト長の増加が挙げられる.その解決策として本稿では,順序動作で故障を検出するスキャンテスト方法としてkサイクルキャプチャテストを提案する.また,それに伴うテスト生成としてkサイクルキャプチャ縮退故障テスト生成法を提案する.kサイクルキャプチャテストでは,kサイクル間順序動作を行うので,無効状態に遷移する確率が低くなると考えられる.ISCAS'89ベンチマーク回路を用いて本提案手法の有効性を示す.
- 2008-02-01
著者
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
細川 利典
日本大学生産工学部
-
吉村 正義
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
小河 宏志
日本大学大学院生産工学研究科
-
山崎 浩二
明治大学
-
大森 悠翔
富士通マイクロエレクトロニクス
-
大森 悠翔
日本大学大学院生産工学研究科
-
小河 宏志
日本大学生産工学部
-
山崎 浩二
明治大学清報コミュニケーション学部
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