セルベース設計に適したSER評価の為のパルス発生確率解析手法(ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
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概要
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中性子がトランジスタに衝突して発生する電荷により,メモリセルや論理ゲートの出力の値が反転する現象をソフトエラーと呼ぶ.論理回路にソフトエラー対策を施す場合,論理ゲートのソフトエラー耐性を評価しなければならない.その際,ソフトエラー耐性の評価指標としてSER(Soft Error Rate)が用いられる.回路のSERを求める場合,予めセルライブラリ中のセル全てに対して,ソフトエラーで発生するパルスの性質をキャラクタライズすれば,回路全体の回路シミュレーションを行わずに回路のSERを求めることが可能となる.提案手法では,論理ゲートに発生するパルス幅およびその発生確率をキャラクタライズする為に,HSPICEの回路シミュレーションを用いて幅ごとのパルス発生確率を求める.提案手法の近似精度を評価した実験では,3次以上の多項式で近似を行った場合,HSPICEの解析結果との誤差は非常に小さな値であった.また,HSPICEのサンプル数が少ない場合も同様に誤差は小さく,サンプル数の違いによるSERの差異もほとんど見られなかった.
- 2009-04-14
著者
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