SER評価のための論理回路におけるパルスの伝搬解析(ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
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概要
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近年のトランジスタの微細化に伴い,ソフトエラーは増加する傾向にある.論理回路において,論理ゲートの出力にパルスが発生し,外部出力に伝搬,または記憶素子に伝搬かつ記憶されると回路の挙動に影響を与える可能性がある.ソフトエラー耐性を考慮した回路設計においては,回路が所望のソフトエラー耐性を持つか調べなければならない.評価指標として一般的にSER(Soft Error Rate)が用いられ,SERを計算するためには,パルス発生確率と,発生したパルスが外部出力に伝搬,または記憶素子に伝搬かつ記憶される確率が必要となる.後者の確率は,パルスの伝搬解析を行うことで求める.パルスの伝搬解析においては,パルス伝搬阻害要因,PT(Pulse Transformation)を考慮する必要がある.現在,様々なSER計算手法が提案されているが,多くの既存手法がパルスの伝搬解析においてPTの考慮を行っておらず,またその妥当性について十分な考察がされていない.本稿では,パルスの伝搬解析において,PTの考慮の有無がSER計算精度にどの程度影響するか評価を行う.
- 2009-04-14
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