組み合わせ論理回路におけるソフトエラーの論理マスク効果の正確な見積り手法について(プロセッサ,システムLSIの応用と要素技術,プロセッサ,DSP,画像処理技術及び一般)
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概要
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中性子線などの影響で組み合わせ回路中の論理値に一時的な誤りが発生することをソフトエラーと呼ぶ,組み合わせ回路内部のソフトエラーはそのすべてが外部出力まで到達するわけではなく,いくつかの要因でマスクされ回路の動作に影響を与えない場合もある.本稿ではそのようなマスク要因の一つである論理マスクの影響を正確に見積もる手法について述べる.このアルゴリズムは他の故障に関する計算結果を再利用することで処理の高速化を図っている.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-09-29
著者
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