RSA暗号回路の安全なテスト容易化設計(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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フルスキャン設計はテスト容易化設計として広く普及しているが,暗号回路に適用すると秘密情報が漏洩する危険がある.本論文では,RSA暗号回路に対してセキュリティを保ちながら,故障検出率を向上させるためのテスト容易化設計を提案する.提案する安全なテスト容易化設計として,秘密情報を含むレジスタをスキャンレジスタとしないパーシャルスキャン設計を適用する.また,排他的論理和木を用いて観測性を向上させつつ,観測情報を1ビットとし解析を困難とし,秘密情報の漏洩を防止する.さらに,可制御性向上のために制御ポイントを挿入しテスト容易化を図ることで,スキャン設計における安全性とテスト容易性の両立を実現している.RSA暗号回路に対して提案手法のテスト容易性を評価した結果,セキュリティを保ちながらフルスキャン設計とほぼ同等の故障検出効率を得ることができた.
- 2009-11-25
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