スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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スキャンテストは,VLSIのテスト方式として広く普及しているが,回路構造の情報のみを利用したテスト法で,シフト動作によって回路を無効状態に遷移させてテストする場合がある.したがって,スキャンテストは過剰テストを行っていると考えられる.過剰テストの弊害としては,歩留まり損失の発生やテストパターン数の増加が挙げられる.スキャンテストで発生する過剰テストを抑制するために,キャプチャモード時のサイクル数がkであるkサイクルキャプチャテストが提案されているが,テスト実行時間が長くなるという課題を有していた.その解決策として本稿では,kサイクルキャプチャ縮退故障テスト生成に基づき,過剰テストを抑制しつつ,kサイクルキャプチャ縮退故障テスト生成で生成したテストパターンから,実際のテスト実行に用いるテストパターンを選択する方法を提案する.またテスト不可能故障と判定された故障を検出する数を削減することも目的としている.
- 2009-02-09
著者
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
吉村 正義
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
小河 宏志
日本大学大学院生産工学研究科
-
山崎 浩二
明治大学
-
大森 悠翔
富士通マイクロエレクトロニクス
-
細川 利典
日本大学大学院生産工学研究科
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