ランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を用いたBASTアーキテクチャにおけるテストパターンマッチング法(設計/テスト/検証)
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概要
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LSIのテスト品質を維持しながら,テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして,組込み自己テストと自動テスト生成を組み合わせたテスト手法であるBAST法が提案されている.BASTアーキテクチャにおいて,擬似ランダムパターン発生器で生成された擬似ランダムパターンを決定的パターンに変換するためにビット反転を用いている.テストデータ量やテスト実行時間を削減するためには,ビット反転数を削減する必要がある.本論文では,検出回数がN回以下である故障集合を検出するために,不必要な値をドントケアとするランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出法を用いる.擬似ランダムパターンのビット反転数を削減するために,決定的パターン集合に対してランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を適用して,擬似ランダムパターンとマッチングする手法を提案する.さらに,ITC'99ベンチマーク回路を用いて,ランダムパターンレジスタント故障数,ドントケア数,未検出故障数,ビット反転数及びテスト実行時間の関係を評価する.
- 2010-06-18
著者
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